檢測流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報價

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實驗。

5、結(jié)束實驗

6、郵寄檢測報告

檢測標準

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.4

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.5

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.6

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.7

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.8

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.9

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.10

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.11

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.12

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13

半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.14

檢測項目

輸入正向閩值電壓VIT+，輸入負向闌值電壓VIT-，帶后電壓△VT，輸出高電平電壓VOH，輸出低電平電壓VOL，輸入高電平電流IIH，輸入低電平電流IL，輸出高電平電流IOH，輸出低電平電流IOL，輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH，輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL

檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急